Mitchell N., Martovetsky N., Miyoshi Y., Decool P., Schild T., Smith J., Freudenberg K., Liao M., Everitt D., Cormany C., Che T., Zhu H., Jiang T., Potts R., Brun C., Bruton A., Vandergriff D., Shao L., Dao C.N., Wooley K., Norausky N., Guilliams V., Istomin A., Rathbun J.
Ключевые слова: Tokamak, ITER, central coils, coils solenoidal, installation, photo
Ключевые слова: HTS, YBCO, bulk, single grain, fabrication, porosity, trapped field, critical current density, experimental results
Kim C., Park C., Shi Y., Steurer M., Pamidi S., Jin Z., Graber L., Cheetham P., Saha P.C., Goldman J., German B.
Ключевые слова: aviation application, propulsion system, cryogenic systems, power electronics, HTS, cables, modeling
Ключевые слова: MgB2, bulk, disks, fabrication, in-situ process, infiltration process, precursors, X-ray diffraction, trapped field, temperature dependence, experimental results
Izumi T., Shiohara K., Machi T., Nakaoka K., Hirose H., Adachi K., Nakanishi T., Sato M., Aoki Y., Takahashi Y., Miura M., Hirai H., Konno M., Iwakuma M.
Ключевые слова: trapped field magnets, HTS, GdBCO, bulk, single grain, fabrication, Jc/B curves, trapped field distribution, experimental results, modeling
Nakamura S., Ohuchi N., Tsuchiya K., Wang X., Anerella M., Ghosh A., Sugimoto H., Escallier J., Jain A., Parker B., Higashi N., Kawai M., Tawada M., Yamaoka H., Zong Z., Oki T., Masuzawa M., Okada N., Arimoto Y., Kondou Y., Aoki K., Hocker H., Ueki R., Akai K., Kanazawa K., Kawamoto T., Koiso H., Morita A., Ohnishi Y., Ohsawa Y., Oide K.
Ключевые слова: colliders, magnetic systems, LTS, NbTi, Rutherford cables, cryogenic systems, cryostat, design, design parameters, fabrication
Shi Y., Durrell J., Dennis A.R., Cardwell D., Ainslie M., Beck M., Cientanni V., Tsui Y.K., Moseley D.
Ключевые слова: HTS, GdBCO, bulk, single grain, rings, pulsed magnetization, trapped field distribution, trapped field, temperature dependence, experimental results
Ключевые слова: HTS, EuBCO, GdBCO, bulk, single grain, microstructure, melting, fabrication, X-ray diffraction, microstructure, doping, crack formation, porosity
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.